近日，鵬力智造 “桌面式自動(dòng)光學(xué)檢測設備”評審會(huì )在南京順利召開(kāi)。會(huì )議由南京信息工程大學(xué)禹勝林教授主持，合肥、南京、南通、揚州等地11位光學(xué)檢測行業(yè)頂尖專(zhuān)家參加評審。

據了解，自動(dòng)光學(xué)檢測是利用光學(xué)方式取得成品的表面狀態(tài)，以影像處理來(lái)檢出異物或圖案異常等瑕疵。作為近幾年才興起的一種新型測試技術(shù)，AOI發(fā)展迅速，在半導體芯片檢測領(lǐng)域發(fā)揮著(zhù)不可忽視的作用，是半導體芯片質(zhì)量保證的堅實(shí)基礎。隨著(zhù)半導體芯片產(chǎn)量的提升以及先進(jìn)封裝技術(shù)的進(jìn)步，市場(chǎng)對芯片質(zhì)量的要求以及芯片測試設備的性能要求也逐漸提升，產(chǎn)量、精度與穩定性三者兼而有之的產(chǎn)品才能獲得市場(chǎng)的青睞。未來(lái)，半導體檢測市場(chǎng)產(chǎn)值將占總體半導體設備產(chǎn)業(yè)的15%-20%。

會(huì )議現場(chǎng)，與會(huì )專(zhuān)家聽(tīng)取了項目組的成果匯報，經(jīng)現場(chǎng)考察、實(shí)際操作、質(zhì)詢(xún)討論，專(zhuān)家組一致認為該項目采用高精度運動(dòng)控制、高精密光學(xué)成像、智能缺陷檢測等技術(shù)，實(shí)現了不同尺寸芯片的高精度成像，單芯片尺寸最大檢測范圍達6.4mm*6.4mm，成像精度達0.5um，檢測圖像處理速度優(yōu)于0.5s/FOV，滿(mǎn)足設計指標要求。該項目能夠準確識別出破損、崩邊、異物、劃傷、裂紋等多種缺陷，實(shí)現不同型號的裸芯片檢測。項目關(guān)鍵技術(shù)自主可控，整體水平國內領(lǐng)先，在裸芯片檢測領(lǐng)域具有廣泛的應用前景和推廣價(jià)值。

見(jiàn)微知著(zhù)，一絲不茍。鵬力智造將堅持不斷創(chuàng )新，依托在機器視覺(jué)等領(lǐng)域的深厚積淀，在半導體芯片封裝的來(lái)料、過(guò)程檢測各領(lǐng)域進(jìn)行體系化布局，不斷提高自身的體系化貢獻率，做自動(dòng)化測試領(lǐng)域的佼佼者。